汽车电子零部件进行EMC测试的时候难免会遇到测试失败，TUV莱茵大中华区交通服务项目经理李学虎基于过往的测试数据和整改经验，总结的快速定位方法究竟有哪些？
先来看看他的“高失败率”测试项目排行榜
五星失败率的项目
包括：RE，CE-V（CE电压法），CE-C（CE电流法）
辐射发射项目最容易失败，为什么？！
学虎老师解说：现在电子集成程度越来越高，ECU处理速率越来越快，高速信号随之带来非常严重的辐射发射干扰；低功耗要求下的开关电源等等都是容易引起测试失败的常见干扰源。所以，RE是实验室通知客户测试失败最常见的项目。
此外，还有CE电压法和CE电流法，和RE一样，三个测试项目都是测发射类测试，只是针对的频率不同；RE测试频段相对较高，部分车厂标准会把RE测试往下探，下探至100kHz，而高频测试至少至2.5GHz或更高，有部分主机厂已经要求测试到6GHz。CE测试一般主机厂要求频段为150kHz-108MHz，部分主机厂已经将频段扩宽至9kHz-175MHz。如果RE低频段测试失败，基本上CE也很难通过，因为RE低频段测试主要考虑的也是电源部分带出来的干扰，所以说发射类测试项是目前最常见的失败项目。
四星失败率的项目
ESD
学虎老师解说：原因是很多芯片的研发是基于消费电子，使用到车上后，测试等级变到8kV、15kV，20kV，甚至25kV。但消费电子的ESD测试等级是2kV、4kV、6kV、8kV，完全不在一个量级上，所以说ESD测试也是比较常见的失败项目。
三星失败率的项目
BCI
学虎老师解说：目前注入的电流等级越来越强，车上很多的信号是弱信号，这种信号的抗干扰能力不强，当大电流注入的情况下，很容易造成失败。BCI低频干扰沿线束注入的方式不可避免，只有在连接器端口做好防护措施。
二星失败率的项目
RS
学虎老师解说：相比BCI，RS失败概率更低，其实这两个项目测的性质是一样，BCI是从0.1到400MHz针对相对低频，RS按照ISO11452标准划分从400MHz到2GHz,RS项目失败率相对低的原因是可以在结构件上做空间抗干扰防护，有效减小失败概率。
一星失败率的项目
包括：MFE、CTI、CTE、CCC、RI-Handle
学虎老师解说：MFE是新能源汽车兴起后，这项测试才受到大家广泛关注，而新能源部件中关于高压转低压、直流转交流非常多，这些转换电路会用到线圈器件，当电流流过这些器件时就会产生很强的低频磁场干扰。
CTI测试，部分客户表示不会失败，证明你们的电源防护措施做很好。但也有一部分客户经常在CTI设计时未考虑到干扰耦合的机制，导致失败。CTE测试，失败偶尔会发生，因为在做电源滤波时会扼流抑制线圈加的过大，且无电容吸收线圈的瞬态干扰，超出了CTE的限值。
CCC测试，失败是因为测试原理是将干扰通过容性耦合钳耦合到信号线上，汽车电子的弱信号幅值非常低，而耦合的干扰幅值又很高。最后，RI-Handle手持式射频抗扰度测试，失败的原因干扰直接近距离的注入在芯片或者信号线上，车规级器件和良好的PCB以及结构设计能有效的避免这项测试失败。
基本不失败项目
ICC、MFI
学虎老师解说：ICC是信号线的感性耦合注入，慢速波形和低幅值的特性决定了他的失败率相对较低，现在ICC的注入等级基本在5-6V，而信号线的上拉基本在13V左右。MFI测试低频磁场抗扰度一般除了同频干扰比如车钥匙之类的产品，很少见失败，且同频干扰是车厂能够接受的现象。
李学虎，德国莱茵TUV大中华区交通服务部汽车电子项目经理，
有丰富的零部件和整车EMC整改经验。
